Курсы
Заявка
Организаторы
Материалы
Контакты
О проекте
 

Компьютерные технологии металлографического контроля

Курсы повышения квалификации проводятся для специалистов-металловедов и начальников лабораторий металлургических и машиностроительных предприятий. По окончании курсов выдается свидетельство государственного образца.

Необходимость и актуальность данного курса обусловлена стремительным прогрессом в применении цифровых технологий в микроскопии для решения задач материаловедения. На любом уровне инструментальной регистрации изображений (макро-, микро-, нано-) носителем информации о материале остается структура. Получив численную регистрацию, она становится более информативной: ее легко описать количественными характеристиками, смоделировать  эволюцию, передать данные для участия в других технологических и информационных  процессах. Поэтому тематика курса связана с вопросами, оперирующими понятием структура в цифровом виде: применение систем регистрации и анализа изображений, закономерности формирования структуры, получение количественных характеристик структуры, метрология и стандартизация в материаловедении.

Программа курсов

Современные методы металлографии
Экспериментальные методы определения структуры. Введение в микроскопию (ОМ, ЭМ, РЭМ, ПЭМ, АСМ, ТМ). Современные тенденции в развитии оптической микроскопии. Металлографические микроскопы. Цифровая микроскопия. Пробоподготовка в микроскопии
Закономерности формирования структуры в сплавах
Типы и морфология микроструктур. Перлитное превращение в стали. Структура и фазовые превращения в сплавах титана. Структура и свойства высокоазотистых аустенитных сталей. Структура наноматериалов. Компьютерное моделирование структурообразования в материалах
Стандартизация в контроле микроструктуры
Менеджмент качества металлургической продукции, ISO. Сертификация металлографических лабораторий. Документооборот и управление в металлографическом контроле, структурная карта изделия
Измерение в количественной металлографии
Проблема метрологии в металлографическом контроле. Количественная взаимосвязь "состав-структура-свойства". Multiscale-подход в металлографии. Источники погрешностей в цифровой микроскопии
Цифровая микроскопия и анализ изображения
Технология электронных таблиц SIAMS, SIMAGIS в анализе изображения. Автоматизированные методики анализа изображения и контроля структуры. Обзор решений металлографических задач в анализе изображений. Анализ зерна в сплавах. Контроль содержания неметаллических включений
Демонстрация возможностей анализаторов SIAMS на базе исследовательских микроскопов Leica. Практические занятия по анализу изображений

Период и порядок обучения

Курсы состоят из двух этапов:
Заочное (дистанционное) обучение лекции, практические занятия, тестовые задания
Очное обучение лекции, семинары, лабораторные работы, отчетная выпускная работа
Суммарный объем программы – 102 час

Оплата обучения

Оплата производится безналичным расчетом после заполнения заявки на обучение.
Бланк заявки в формате Word можно заполнить и отправить по факсу (343) 379-00-34 (35) или по электронной почте dm@siams.com

Кадровый потенциал курсов

Обучение проводится на базе Центра компьютерного моделирования и анализа данных Высшей инженерной школы УрФУ с привлечением преподавателей высокой квалификации и ведущих специалистов отраслевых институтов.

Счастливцев В.М., академик РАН Институт физики металлов УрО РАН
Попов А.А., д.т.н., профессор, зав. кафедрой Термообработки и физики металлов УрФУ
Гроховский В.И., к.т.н., доцент кафедры Физические методы и приборы контроля качества  УрФУ
Березовская В.В., д.т.н, профессор кафедры Металловедения УрФУ
Веселов И.Н., к.т.н., директор Екатеринбургского филиала ОАО «РосНИТИ»
Гладковский С.В., д.т.н., Институт машиноведения УрО РАН
Замятин В.М., профессор кафедры физики УрФУ
Шур В.Я., д.ф.-м.н., зав. лабораторией Института физики и прикладной математики УрГУ
Коган Л.А., к.т.н., заведующий отделом стандартизации и аттестации ВУХИН
Рабовский В.А., к.т.н., директор Центра стандартизации, метрологии и сертификации продукции ОАО "Уральский институт металлов"
Добужская А.Б., к.т.н., зав. лабораторией металловедения ОАО "Уральский институт металлов"
Шульгин Д.Б., к.ф.-м.н., директор Учебно-научного центра интеллектуальной собственности
Мальцева Л.А., к.т.н., доцент кафедры металловедения УрФУ
Кадушников Р.М., к.ф.-м.н., директор компании SIAMS
Яковлев Ю.Р., к.т.н., технический директор компании SIAMS
Хватьков В.В., президент компании Smart Imaging Technologies (США)

Контакты

По всем интересующим Вас вопросам обращайтесь к
Cоминой Светлане Вадимовне
Тел./ Факс: (343) 379 00 34 (35,36)
E-mail: sveta@siams.com

© 2001-2014, Компания SIAMS. Все права защищены